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숭실대학교 신소재공학실험2 반도체 소자 전기적 특성 분석 예비보고서2025.01.211. SEM (주사 전자 현미경) SEM은 전자총과 전자선 검출기의 구조를 가지고 있다. 전자총은 전자를 발생시키는 기기이고, 검출기는 시료와 전자선의 상호작용으로 발생한 다른 전자선을 검출하는 기기이다. SEM의 전자총으로부터 나온 전자선은 관측하려는 시료의 표면 원자들과 상호작용하여 이차 전자, 후방 산란 전자, X선 등을 발생시킨다. SEM은 이러한 이차 전자를 검출하여 기본적인 상을 형성하게 된다. 2. AFM (원자력 현미경) AFM은 측정하고자 하는 시료와 AFM 내의 탐침 사이의 미세한 원자간 상호작용을 측정한다. 이를...2025.01.21
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숭실대학교 신소재공학실험2 다결정 박막 코팅 및 분석 결과보고서2025.01.211. 다결정 박막 코팅 및 분석 이 보고서는 다결정 박막 코팅 및 분석에 대한 실험 결과를 다루고 있습니다. 실험의 목적은 다결정이 무엇인지 이해하고, Spin-coater와 AFM 기계 사용법을 익히며, 단결정과 다결정의 구조 차이를 분석하는 것입니다. 실험 방법으로는 CsPbBr3 전구체 용액을 준비하고 Spin-coating 및 열처리를 진행했습니다. 실험 결과로 XRD, SEM, PL 데이터를 확인했으며, 단결정과 다결정의 XRD 패턴 차이, UVO 처리에 따른 박막 특성 변화 등을 분석했습니다. 1. 다결정 박막 코팅 및 ...2025.01.21
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SEM 보고서2025.01.271. 주사전자현미경(SEM) 주사전자현미경(SEM)은 진공에 놓인 시료의 표면을 1~100 nm의 전자선으로 관측하는 현미경입니다. 분석 특징으로는 표면 형상 및 구조 관찰, SE와 BSE 영상, EDS 원소 분석 등이 있으며, 공간분해능은 약 1 nm, EDS 원소 분석의 검출 범위는 C(Be)-U입니다. SEM의 원리는 집속된 전자빔을 시료표면에 주사하면서 전자빔과 시료와의 상호작용에 의해 발생되는 이차전자 또는 후방산란전자를 이용하여 시료의 표면을 관찰하는 것입니다. SEM의 주요 구성요소로는 전자총, 자기렌즈, 검출기 등이 ...2025.01.27
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[신소재공학과]구리호일제작_신소재공학실험III_A+2025.05.101. 구리 전기도금 구리 전기도금은 컴퓨터 칩, 반도체, 전자, 통신부품 등 다양한 분야에서 사용되며, 부식 방지를 위해 금도금 대신 사용된다. 전기분해 원리를 이용하여 구리 이온이 환원되어 음극에 도금되는 과정을 이해하고, 도금 조건 변화에 따른 도금층 두께 및 표면 특성 변화를 관찰하였다. 또한 도금 박막의 열처리 전후 인장 시험을 통해 기계적 특성 변화를 분석하였다. 2. 도금 첨가제 효과 클로라이드, SPS, PEG 등의 첨가제를 사용하여 구리 도금 특성을 개선하였다. 클로라이드는 구리 이온 이동을 촉진하여 도금량 증가와 표...2025.05.10
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[물리화학실험2] 실험4_결과레포트_SEM을 이용한 polymer blend film topology2025.05.151. SEM을 이용한 polymer blend film topology SEM을 이용하여 polymer blend film의 topology를 분석하였습니다. 실험에서는 poly(ethyl methacrylate)와 polystyrene의 blend film을 제작하고 SEM으로 관찰하였습니다. SEM 분석 결과, 두 고분자 간의 상분리 현상이 관찰되었으며, 각 고분자의 특성이 반영된 표면 형태를 확인할 수 있었습니다. 이를 통해 고분자 블렌드 필름의 미세구조와 상호작용을 이해할 수 있었습니다. 1. SEM을 이용한 polymer ...2025.05.15
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SEM을 이용한 polymer blend film topology2025.05.151. SEM (주사전자현미경) SEM은 주사전자현미경으로, 시료 표면의 형태와 구조를 관찰할 수 있는 장비입니다. 이 실험에서는 SEM을 이용하여 polymer blend film의 표면 형태와 구조를 분석하였습니다. 2. Polymer blend film Polymer blend film은 두 가지 이상의 고분자를 혼합하여 만든 박막 구조입니다. 이 실험에서는 polymer blend film의 상 분리 현상과 표면 형태를 관찰하였습니다. 3. 상 분리 (Phase separation) Polymer blend film에서는 서로...2025.05.15
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고분자실험 SEM, TEM 예비보고서2025.05.091. 전자 현미경 전자 현미경은 가시광선을 사용하지 않고 0.01nm 정도의 파장을 가진 전자빔을 사용하며, 광학 현미경에서의 렌즈 역할을 전기장이나 자기장이 대신한다. 전자빔의 사용으로 인해 시료에 영향을 줄 수 있으며, 고진공 상태에서 분석해야 한다는 제약이 있다. 전자 현미경은 크게 SEM(주사 전자 현미경)과 TEM(투과 전자 현미경)으로 분류할 수 있다. 2. SEM(주사 전자 현미경) SEM은 이미지가 샘플 표면의 특정 위치에서 전자빔을 스캔하여 형성되는 분석 방법이다. SEM은 표면에서 흩어진 전자들을 수집하며 분석을 ...2025.05.09
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유기소재실험2_SEM2025.05.151. SEM(주사전자현미경) 주사전자현미경(SEM)은 시료 표면을 전자선으로 주사하여 입체구조를 직접 관찰할 수 있는 전자현미경입니다. 시료 내의 원소에서 발생하는 특성 X선을 분석하는 X선 마이크로 애널나이저와 병용하여 시료 내의 특정 원소의 검출이나 분포를 해석하는 데 널리 사용됩니다. SEM은 주로 시료 표면의 정보를 얻을 수 있고 시료의 두께, 크기 및 준비에 크게 제한을 받지 않습니다. 또한 광학현미경에 비해 집점심도가 2배 이상 깊고 광범위하게 집점을 맞출 수 있어 입체적인 상을 얻는 것이 가능합니다. 2. SEM의 원리...2025.05.15
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SAP사의 전략적 기업 경영 SEM2025.05.141. SAP 사 SAP 사는 1972년 네 명의 소프트웨어 엔지니어에 의해 창업되었다. SAP는 System, Application and Project의 약자이다. 초창기에는 IBM의 시스템 개발 프로젝트를 하청 받던 업체였으나, IBM이 프로젝트를 다른 부문으로 이관하면서 독자적인 소프트웨어 개발 벤처기업으로 성장하게 되었다. 이후 IBM의 고객인 영국기업 ICI의 시스템 개발에도 참여하게 되었다. 2. SAP SEM(Strategic Enterprise Management) SAP SEM은 전략경영 지원 도구(tool)이다. ...2025.05.14
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재료공학기초실험_SEM 주사전자현미경관찰(1)_전자현미경 원리 및 시편준비2025.05.081. 주사전자현미경(SEM)의 원리 및 구조 주사전자현미경(SEM)은 재료의 표면 형상분석 및 성분분석에 널리 사용되는 장비입니다. SEM은 전자총, 집속렌즈, 대물렌즈, 조리개, 전자 검출기 등으로 구성되어 있습니다. 전자총에서 발생한 전자빔이 시료에 주사되면 시료 표면에서 발생하는 2차 전자를 검출하여 화상을 구현합니다. SEM은 최대 수백만 배의 고배율 이미지를 얻을 수 있으며, 시편 준비가 간단하고 정성/정량 분석이 가능한 장점이 있습니다. 2. SEM의 전자총 및 전자빔 생성 SEM의 전자총은 전자를 만들어내고 가속시키는 ...2025.05.08
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