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[A+] 단국대 고분자공학실험및설계2 <코팅 방법 -Atomic Force Microscope (AFM)> 레포트2025.01.221. AFM (Atomic Force Microscope) AFM은 수십 마이크로미터의 캔틸레버 끝에 미세한 팁을 달아 표면에 가까이 하면 팁 끝과 표면간 원자간 힘에 의해 캔틸레버가 휘어지게 되는 원리를 이용하여 표면의 형상을 측정하는 장비입니다. AFM은 접촉 모드와 비접촉 모드로 나뉘며, 표면 거칠기를 나타내는 지표로는 제곱 평균 거칠기(Rq)가 주로 사용됩니다. 2. ITO (Indium Tin Oxide) ITO는 높은 가시광 투과도와 전기전도도, 화학적 안정성 등의 특성으로 투명전극 재료로 널리 사용됩니다. ITO 기판의...2025.01.22
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[실험설계] 스핀코팅의 원리 및 AFM 분석2025.01.241. 스핀코팅 (Spin coating) 용액을 기판 위에 떨어트린 후 기판을 회전시켜 그 원심력으로 박막을 형성하는 것을 말한다. 저분자 물질의 증착법인 진공 증착법과 비교하여 진공 상태를 필요로 하지 않고 일반 대기상태의 상온에서 할 수 있다는 특징을 가지고 있다. 하지만 소자의 효율을 높이기 위해 다층막을 형성할 수 없고 원하는 부위만이 아닌 기판 전 영역에 걸쳐 박막이 형성되기 때문에 전극과의 접촉을 위해 전극 contact 부분을 직접 지워주어야 하는 번거로움이 있다. Spin coating 에 영향을 주는 요인으로는 용액...2025.01.24
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[실험설계] Spin Coating으로 형성한 Thin Films의 표면 분석2025.01.241. Surface analysis of thin films formed by spin coating 이 프레젠테이션은 PEDOT:PSS 박막을 스핀 코팅 방법으로 제작하고, 표면 프로파일러와 AFM을 사용하여 RPM에 따른 박막 두께와 표면 거칠기의 경향성을 분석하였습니다. 실험 결과, RPM이 낮을수록 박막 두께가 증가하고 표면 거칠기가 증가하는 것을 확인하였습니다. 또한 RPM 3000에서는 응집된 물질이 관찰되었는데, 이는 분산이 잘 되지 않았거나 기판 세척이 제대로 되지 않은 것이 원인으로 추정됩니다. 향후 계획으로는 용액...2025.01.24
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숭실대학교 신소재공학실험2 반도체 소자 전기적 특성 분석 예비보고서2025.01.211. SEM (주사 전자 현미경) SEM은 전자총과 전자선 검출기의 구조를 가지고 있다. 전자총은 전자를 발생시키는 기기이고, 검출기는 시료와 전자선의 상호작용으로 발생한 다른 전자선을 검출하는 기기이다. SEM의 전자총으로부터 나온 전자선은 관측하려는 시료의 표면 원자들과 상호작용하여 이차 전자, 후방 산란 전자, X선 등을 발생시킨다. SEM은 이러한 이차 전자를 검출하여 기본적인 상을 형성하게 된다. 2. AFM (원자력 현미경) AFM은 측정하고자 하는 시료와 AFM 내의 탐침 사이의 미세한 원자간 상호작용을 측정한다. 이를...2025.01.21
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숭실대학교 신소재공학실험2 반도체 소자 전기적 특성 분석 결과보고서2025.01.211. 반도체 소자 전기적 특성 분석 이 보고서는 반도체 소자의 전기적 특성을 분석하기 위해 SEM, AFM, TEM, OM, Alpha step, Four-point probe 등의 분석 기법을 사용한 실험 결과를 다루고 있습니다. 실험을 통해 표면 morphology, 단면 두께, 소자 면적, 상부 전극 두께, 금속 막의 비저항 등을 측정하고 분석하였습니다. 실험 결과 분석에 따르면 불순물, 온도, 금속 막의 구조 등의 요인으로 인해 실험값과 이론값의 차이가 발생하였으며, 금속 막의 두께 감소에 따라 비저항이 증가하는 것을 확인하...2025.01.21