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숭실대학교 신소재공학실험2 반도체 소자 전기적 특성 분석 예비보고서2025.01.211. SEM (주사 전자 현미경) SEM은 전자총과 전자선 검출기의 구조를 가지고 있다. 전자총은 전자를 발생시키는 기기이고, 검출기는 시료와 전자선의 상호작용으로 발생한 다른 전자선을 검출하는 기기이다. SEM의 전자총으로부터 나온 전자선은 관측하려는 시료의 표면 원자들과 상호작용하여 이차 전자, 후방 산란 전자, X선 등을 발생시킨다. SEM은 이러한 이차 전자를 검출하여 기본적인 상을 형성하게 된다. 2. AFM (원자력 현미경) AFM은 측정하고자 하는 시료와 AFM 내의 탐침 사이의 미세한 원자간 상호작용을 측정한다. 이를...2025.01.21
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금속 나노입자의 습식 합성 결과보고서2025.01.211. 금 나노입자 합성 실험을 통해 HAuCl4와 Sodium Citrate를 사용하여 금 나노입자를 합성하였다. 실험 온도와 Sodium Citrate의 양이 금 나노입자의 크기와 모양에 미치는 영향을 분석하였다. 높은 온도와 많은 양의 Sodium Citrate를 사용할수록 금 나노입자의 합성이 촉진되어 더 작고 균일한 크기의 입자가 형성되었다. 또한 금 나노입자의 활용 분야로 진단 및 치료, 촉매, 에너지, 디스플레이 등이 소개되었다. 2. DLS 측정 DLS 측정 시 주의사항과 오차 요인에 대해 설명하였다. 기기 조작 주의,...2025.01.21
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자성 물질의 습식 합성 결과보고서2025.01.211. 자성 나노 입자 합성 이 실험에서는 FeCl₂와 FeCl₃의 반응을 통해 자성 나노 입자를 합성하고, 합성된 나노 입자의 물리적·자기적 특성을 확인하였습니다. NH₄OH를 첨가하여 pH를 조절하면 Fe(OH)₂와 FeO(OH)가 생성되고, 이들이 결합하여 Fe₃O₄ 강자성체가 형성됩니다. NH₄OH의 첨가량에 따라 입자 크기가 달라지며, 입자 크기가 작을수록 초상자성 특성이 강해집니다. TEM 이미지 분석을 통해 NH₄OH 첨가량이 많을수록 입자 크기가 작아지는 것을 확인할 수 있었습니다. 2. 산화철의 종류 실험에서 합성된 ...2025.01.21
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숭실대학교 신소재공학실험2 반도체 소자 전기적 특성 분석 결과보고서2025.01.211. 반도체 소자 전기적 특성 분석 이 보고서는 반도체 소자의 전기적 특성을 분석하기 위해 SEM, AFM, TEM, OM, Alpha step, Four-point probe 등의 분석 기법을 사용한 실험 결과를 다루고 있습니다. 실험을 통해 표면 morphology, 단면 두께, 소자 면적, 상부 전극 두께, 금속 막의 비저항 등을 측정하고 분석하였습니다. 실험 결과 분석에 따르면 불순물, 온도, 금속 막의 구조 등의 요인으로 인해 실험값과 이론값의 차이가 발생하였으며, 금속 막의 두께 감소에 따라 비저항이 증가하는 것을 확인하...2025.01.21
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기기분석실험 11주차 TEM 결과레포트2025.01.291. 투과전자현미경(TEM) 투과전자현미경(TEM)은 시료에 전자빔(electron beam)을 통과시켜 영상을 만드는 전자현미경입니다. 전자의 파장이 짧아 광학현미경보다 수천 배 높은 분해능을 가지며, 전자가 물질과 민감하게 반응하여 국부적인 원자배열의 이미지 관찰 및 결정학 분석에 적합합니다. 높은 에너지의 전자를 사용하는 이유는 전자의 파장이 짧아져 더 작은 세부 구조를 분해할 수 있고, 시료를 더 잘 투과하며, 산란이 감소하여 명확한 이미지를 얻을 수 있기 때문입니다. 2. 대물렌즈(Objective Lens) 대물렌즈는 시...2025.01.29