1. AFM(Atomic Force Microscope)의 정의 및 특성 AFM은 원자 간 거리에 따른 힘의 변화를 이용하여 나노미터 수준에서 물질 표면을 관찰하는 원자현미경이다. 1980년대 초 개발되었으며, 광학현미경과 전자현미경에 이은 제3세대 현미경으로 분류된다. 최고 수천만 배의 배율로 개별 원자까지 관찰 가능하며, 진공이 아닌 대기 중에서도 사용 가능하다. 시료의 형상뿐만 아니라 물리적, 전기적 성질도 측정할 수 있는 나노기술 필수 장비이다. 2. AFM의 구조 및 작동 원리 AFM은 마이크로머시닝으로 제조된 캔틸레버(길...