
총 2개
-
기기분석실험 11주차 TEM 결과레포트2025.01.291. 투과전자현미경(TEM) 투과전자현미경(TEM)은 시료에 전자빔(electron beam)을 통과시켜 영상을 만드는 전자현미경입니다. 전자의 파장이 짧아 광학현미경보다 수천 배 높은 분해능을 가지며, 전자가 물질과 민감하게 반응하여 국부적인 원자배열의 이미지 관찰 및 결정학 분석에 적합합니다. 높은 에너지의 전자를 사용하는 이유는 전자의 파장이 짧아져 더 작은 세부 구조를 분해할 수 있고, 시료를 더 잘 투과하며, 산란이 감소하여 명확한 이미지를 얻을 수 있기 때문입니다. 2. 대물렌즈(Objective Lens) 대물렌즈는 시...2025.01.29
-
고분자실험 SEM, TEM 예비보고서2025.05.091. 전자 현미경 전자 현미경은 가시광선을 사용하지 않고 0.01nm 정도의 파장을 가진 전자빔을 사용하며, 광학 현미경에서의 렌즈 역할을 전기장이나 자기장이 대신한다. 전자빔의 사용으로 인해 시료에 영향을 줄 수 있으며, 고진공 상태에서 분석해야 한다는 제약이 있다. 전자 현미경은 크게 SEM(주사 전자 현미경)과 TEM(투과 전자 현미경)으로 분류할 수 있다. 2. SEM(주사 전자 현미경) SEM은 이미지가 샘플 표면의 특정 위치에서 전자빔을 스캔하여 형성되는 분석 방법이다. SEM은 표면에서 흩어진 전자들을 수집하며 분석을 ...2025.05.09