1. AFM (Atomic Force Microscope) AFM은 수십 마이크로미터의 캔틸레버 끝에 미세한 팁을 달아 표면에 가까이 하면 팁 끝과 표면간 원자간 힘에 의해 캔틸레버가 휘어지게 되는 원리를 이용하여 표면의 형상을 측정하는 장비입니다. AFM은 접촉 모드와 비접촉 모드로 나뉘며, 표면 거칠기를 나타내는 지표로는 제곱 평균 거칠기(Rq)가 주로 사용됩니다. 2. ITO (Indium Tin Oxide) ITO는 높은 가시광 투과도와 전기전도도, 화학적 안정성 등의 특성으로 투명전극 재료로 널리 사용됩니다. ITO 기판의...