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숭실대 신소재공학실험1) 14주차 고분자 디바이스 예비보고서
2025.01.14
1. 4-point probe 측정 원리 4-point probe 방법은 동일선상에 놓은 4개의 핀을 시료의 표면에 접촉시켜 저항을 측정하고, 기하학적 보정계수를 적용하여 면저항을 측정하는 방식이다. Single configuration의 측정 원리는 핀 A, D에 전류(I_{AD})를 흘리고 핀 B, C에서 전압(V_{BC})을 측정하여 저항 R_a = V_{BC}/I_{AD}를 구하고, 면저항(R_S = k_a * R_a)을 구하는 방법이다. 여기서 k_a는 핀 간격에 대한 시료 크기 보정 인자, 핀 간격에 대한 시료의 두께 보...
2025.01.14
# 4-pointprobe
# 고분자표면개질
# Primer처리
# Etching
# 플라즈마처리
# Spincoating
# 박막두께조절
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2025년 02월 23일 일요일
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