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[A+레포트] 페놀 수지의 합성 예비레포트(11페이지)2025.01.201. 페놀수지의 합성 페놀수지의 종류인 노볼락(Novolak)과 레졸(Resol)의 차이를 이해하고, 노볼락(Novolak)과 레졸(Resol)의 반응 메커니즘을 알아본다. 또한 노볼락과 레졸의 물성 차이를 이해한다. 2. 페놀수지의 반응 메커니즘 페놀과 포름알데히드를 이용하여 중합하는 페놀수지의 반응 메커니즘을 설명한다. 노볼락 메커니즘과 레졸 메커니즘의 차이를 설명한다. 3. 페놀수지의 특징 및 용도 페놀수지의 사출성형 가능성, 우수한 전기 절연성, 기계적 강도, 안정성 및 신뢰성 등의 특징을 설명하고, 전자, 통신기기, 자동차...2025.01.20
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ZrO2의 소결밀도에 미치는 첨가물 영향2025.05.141. ZrO2의 소결밀도 ZrO2는 희귀한 금속이지만 핵분열 과정에서 생성되는 중성자를 흡수하지 않아 핵연료 저장용기 제조에 사용된다. 소결은 분체 입자 간 결합이 일어나 응고하는 현상으로, 이 실험에서는 ZrO2에 Y2O3를 첨가하여 첨가 전후 밀도 차이를 알아보고자 하였다. 실험 결과, 첨가물 농도에 따른 소결밀도 변화 경향이 뚜렷하지 않았으며, 이는 시료 혼합, 성형, 소결 과정에서의 오차 때문인 것으로 분석되었다. 2. ZrO2의 결정구조 ZrO2는 2300°C 이상에서 8배위 형석구조를 가지는 입방 산화지르콘으로 재배열된다...2025.05.14
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[고분자합성실험] 폴리우레탄 탄성체의 합성 예비+결과보고서(A+)2025.01.291. 폴리우레탄 합성 폴리우레탄은 이소시아네이트 화합물과 히드록시 화합물의 반응으로 제조되며, 조성분의 종류 및 함량에 따라 다양한 특성을 나타낼 수 있다. 본 실험에서는 MDI와 PTMG를 사용하여 폴리우레탄 탄성체를 합성하고, NCO 값을 측정하여 그 특성을 확인하였다. 2. NCO 값 측정 NCO 값 측정은 DBA(dibutylamine)를 이용한 방법으로 진행되었다. 반응물 샘플을 취하여 DBA 용액, 톨루엔, IPA, 브로모크레졸 그린 지시약을 넣고 1N HCl 용액으로 적정하여 NCO 값을 계산하였다. 3. 폴리우레탄 합...2025.01.29
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[한양대 기계공학부] 동역학제어실험 실험2 초음파 Pulse-echo 실험 A+ 자료2025.04.261. 초음파 초음파는 비파괴 검사, 의료용 이미지 및 소나(Sonar, SOund Navigation And Ranging) 등 다양한 계측 분야에서 활용되고 있다. 초음파의 경우 음향 특성이 다른 두 물질의 경계면에서 반사되는 신호를 측정하고 분석한다. 본 실험에서는 Impedance mismatching을 이해하고 초음파 Pulse-echo를 통해 수신된 신호를 분석하는 방법을 배운다. 2. 음향 임피던스 음향 임피던스(acoustic impedance)는 매질의 속도와 음압 사이의 비율을 말하며, 진동수에 대한 함수로 나타난다...2025.04.26
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표면장력 실험 결과보고서2025.05.051. 표면장력 실험을 통해 온도에 따른 물의 표면장력 변화를 측정하고 이론값과 비교하였다. 온도가 증가할수록 표면장력이 감소하는 것을 확인하였으며, 이론값과 실험값의 오차율은 5% 이상으로 나타났다. 오차의 주요 원인으로는 실험에 사용한 수돗물의 불순물, 실험 중 온도 변화, 수평 조절의 어려움 등이 지적되었다. 1. 표면장력 표면장력은 액체 표면에 작용하는 힘으로, 액체 분자들 사이의 상호작용에 의해 발생합니다. 이 힘은 액체 표면을 최소화하려는 경향이 있어 액체가 구형을 이루게 하고, 물체가 액체 표면에 떠있게 하는 등 다양한 ...2025.05.05
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전자재료 보고서2025.05.101. 반도체 구성 물질의 물성 이해 및 반도체 성능저하 요인 개선 방안 반도체 구성 물질의 물성을 이해하고 high k 물질 및 low k 물질, graphene 등의 물질을 이용하여 반도체 성능향상을 도모하는 것이 주요 내용입니다. SiO2의 Scaling 한계로 인한 Gate Leakage와 Dram Capacitor의 Leakage 증가 문제를 해결하기 위해 High-K 유전체가 대두되었지만, 대부분의 High-K 유전체가 Crystallization-Induced 누설전류와 낮은 신뢰성을 가지고 있어 실리콘과의 계면상태가 우...2025.05.10
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