1. 서론 1.1. TCAD 시뮬레이션 TCAD 시뮬레이션은 반도체 공정·소자 현상에 대한 모델링을 기반으로 제품의 특성을 예측하는 기반기술로, 새로운 반도체를 만들 때 생산라인에 적용하기 전에 시뮬레이션을 돌려 미리 확인할 수 있다. 본 연구에서는 TCAD 시뮬레이션을 활용하여 PN junction 다이오드의 특성을 분석하였다. 먼저 온도에 따른 PN junction 다이오드 특성 변화를 확인하였다. 온도가 높을수록 다이오드의 문턱전압이 낮아지는 것을 확인하였는데, 이는 열전압의 감소에 따른 것이다. 또한 Germanium(G...